近日，登录入口二院201所元器件可靠性技术研究中心成功中标国家实验室一芯片可靠性研究项目。本次中标进一步巩固了201所在元器件可靠性领域的优势地位，实现了任务来源向更高层次的跨越，为后续深耕发展打下坚实基础。

　　该项目将对集成射频封装芯片开展可靠性保证要求及验证方法、试验技术标准制定等研究工作，为集成射频封装芯片可靠性工程提供支撑。（文/王长鑫）